脫硝高溫抽取式激光氨逃逸產(chǎn)品優(yōu)點【附圖】

產(chǎn)品優(yōu)點
♦不受背景氣體的影響
傳統(tǒng)非色散紅外光譜吸收技術采用的光源譜帶很寬，其譜寬范圍內(nèi)除了被測 氣體的吸收譜線外，還有很多基他背景氣體的吸收譜線。因此，光源發(fā)出的光除 了被待測氣體的多條譜線吸收外還被一些背景氣體的吸收，從而導致測量的不準 確性。而半導體激光吸收光譜技術中使用的半導體激光的譜寬小于O.OOlnm， 遠小于被測氣體一條吸收譜線的譜寬。如圖2-1所示的“單線吸收光譜”數(shù)據(jù)。 同時在選擇該吸收譜線時，就保證在所選吸收譜線頻率附近約10倍譜線寬度范 圍內(nèi)無測量環(huán)境中背景氣體組分的吸收譜線，從而避免這些背景氣體組分對被測 氣體的交叉吸收干擾，保證測量的準確性。

♦不受粉塵干擾
如圖2-1激光氣體分析儀通過調(diào)制激光器的頻率使之周期性地掃描被測氣 體的吸收譜線，激光頻率的掃描范圍被設置為大于被測氣體吸收譜線的寬度，從 而在一次掃描中包含有不被氣體吸收譜線衰減的圖2-1中的黃綠區(qū)（1區(qū)）和被 氣體吸收譜線衰減的紅色區(qū)（2區(qū)）。從1區(qū)得到的測量信號包含粉塵和視窗污 染的透過率，從2區(qū)得到的測量信號除包含粉塵和視窗污染的透過率還包含被氣 體吸收的光強衰減。因此，通過在一個激光頻率掃描周期內(nèi)對1區(qū)和2區(qū)的同時 測量可以準確獲得被氣體吸收衰減掉的透光率，從而不受粉塵及視窗污染產(chǎn)生光 強衰減對氣體測量濃度的影響。

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